珀金埃爾默企業(yè)管理（上海）有限公司
使用NexION 5000 SP-ICP-MS分析半導(dǎo)體級(jí)硫酸中的金屬納米顆粒
檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體級(jí)硫酸
檢測(cè)項(xiàng)目：金屬納米顆粒
方案概述：在本實(shí)驗(yàn)中，NexlON 5000多重四極桿ICP-MS用于分析1%硫酸中的納米顆粒污染，以證明其適用于半導(dǎo)體行業(yè)中使用的工藝化學(xué)品的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室分析。
電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)作為一種多元素檢測(cè)技術(shù)，具有靈敏度高、樣品類(lèi)型靈活(氣體、液體和固體)、測(cè)量速度快、線性動(dòng)態(tài)范圍寬等優(yōu)點(diǎn)。在單顆粒模式下運(yùn)行的ICP-MS(SP-ICP-MS)已被證明是一種用于檢測(cè)和測(cè)量納米顆粒(NP)的強(qiáng)大技術(shù)，能夠測(cè)定多種納米顆粒特征，如無(wú)機(jī)成分、濃度、粒徑、粒徑分布和聚集。
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